この部分に関して、宮坂正大さん（ http://www.toybox.gr.jp/）からbinj　MLの
　No.1733で次のようなコメントをいただきました。
  「私は最近、木曽のシュミットの裏面照射型CCDで観測及び解析をしています
が、裏面照射型はチップを薄く削る関係からか、バッドピクセルがすごく多く
て、小惑星や比較星がすぐにバッドピクセルにかかってしまい、すごく観測が
やりずらいです。もちろん、かかったらそのデータは使えません。
  また、Iバンドは裏面照射型特有のフランジパターンが生じて精度の高い測
光の邪魔になります。これを補正するのはすごく大変です。と言うことで、裏
面照射型はそれなりに問題点があるわけで、単に表面照射型に比べて測光精度
が上るとは言えないのではと感じました。」

私も10年程前に美星天文台でSiTe社の１K×１K裏面照射型CCDチップをAstroCam
のCCDカメラとして使い始めましたが、ほどなくカメラの回路系が不調になり、その
影響で高価な裏面照射型CCDが壊れてしまい、しかたなく表面照射型CCDに交換
しました。従って、裏面照射型CCDの問題点としてフリンジを消去しにくいということ
があると言った程度以上には把握する機会がありませんでした。

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